為了更好的建設屏蔽工程，保障屏蔽工程的順利進行，在施工過程中就要注意相關事項，那么需要關注哪些重要事項呢？下面就由無錫立達屏蔽成套設備有限公司的工作人員來為大家解答：

影響屏蔽工程其性能指標的因素主要包括：暗室參數(shù)、天線測量的誤差以及其他誤差等。

微波暗室的電性能指標主要由靜區(qū)的特征來表征。靜區(qū)的特性又以靜區(qū)的大小、靜區(qū)內的大反射電平、交叉化度、場均勻性、路徑損耗、固有雷達截面、工作頻率范圍等指標來描述。

影響暗室性能指標的因素是多元化的，也是很復雜的，在利用光線發(fā)射法和能量物理法則對暗室性能進行仿真計算時，需要考慮電波的傳輸去耦，化去耦，標準天線的方向圖因素，吸收材料本身的垂直入射性能和斜入射性能，多次反射等影響。但在實際的工程設計過程中，往往以吸收材料的性能作為暗室性能的關鍵決定因素。

1)交叉化度：由于暗室結構的不嚴格對稱、吸收材料對各種化波吸收的不一致性以及暗室測試系統(tǒng)等因素使電波在暗室傳播過程中產生化不純的現(xiàn)象。如果待測試天線與發(fā)射天線的化面正交和平行時，所測試場強之比小于-25dB，就認為交叉化度滿足要求。

2)多路徑損耗：路徑損耗不均勻會使電磁波的化面旋轉，如果以來波方向旋轉待測試天線，接收信號的起伏不超過+-0.25 dB，就可忽略多路徑損耗。

3)場均勻性：在暗室靜區(qū)，沿軸移動待測試天線，要求起伏不超+-2dB；在靜區(qū)的截面上，橫向和上下移動待測天線，要求接收信號起伏不超過+-0.25 dB。

2、天線測量的誤差

1)有限測試距離所引起的誤差

設待測的是平面天線,接收的來波沿其主波束的軸向.若測試距離大小,由待測天線之不同部位所接受的場不能相同,因此具有平方根律相位差。若待測天線恰位于源天線遠場區(qū)的邊界2D2/λ,其口徑邊緣與相位中心的場存在22.5度的相位差.若測試距離加倍,在相位差減半。

對于測量中等旁瓣電平的天線,距離2D2/λ通常已經(jīng)足夠,測出的增益約偏小0.06dB.測試距離縮短會使測量誤差迅速增大,旁瓣會與主波束合并成肩臺式,甚至合為一體..通常0.25 dB的錐銷使測出的增益降低約為0.1 dB,并造成近旁瓣的些許誤差。

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